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半導体レーザを用いたターゲットの厚さ・速度同時測定に関する研究

半導体レーザを用いたターゲットの厚さ・速度同時測定に関する研究

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-020

グループ名: 【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集

発行日: 2016/03/05

タイトル(英語): Study on thickness of object and speed simultaneous measurement using LD

著者名: 道廣 豊起(愛知工業大学),五島 敬史郎(愛知工業大学),津田 紀生(愛知工業大学),山田 諄(愛知工業大学)

著者名(英語): Toyoki Michihiro(Aichi Institute of Technology),Keishiro Goshima(Aichi Institute of Technology),Norio Tsuda(Aichi Institute of Technology),Jun Yamada(Aichi Institute of Technology)

キーワード: 半導体レーザ,自己結合効果

要約(日本語): 近年、工場の生産ラインでは、レーザを用いた距離測定が行われている。例としてフィルムを生産する過程で、非接触である必要や距離計と速度計が別個である問題がある。レーザによる計測法は、まさに、このような要求に適している。そこで本研究では、半導体レーザによる自己結合効果を用いてターゲットの厚さ・速度同時測定に関する研究を行った。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 229 Kバイト

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