表面電位に基づくSiCパワーMOSFETモデルを用いたE級増幅器の回路シミュレーションに関する検討
表面電位に基づくSiCパワーMOSFETモデルを用いたE級増幅器の回路シミュレーションに関する検討
カテゴリ: 全国大会
論文No: 4-013
グループ名: 【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集
発行日: 2016/03/05
タイトル(英語): A Case Study on Circuit Simulation of Class-E Amplifier Using Surface-Potential-Based SiC Power MOSFET Model
著者名: 新谷 道広(京都大学),廣本 正之(京都大学),佐藤 高史(京都大学)
著者名(英語): Michihiro Shintani(Graduate School of Informatics, Kyoto University),Masayuki Hiromoto(Graduate School of Informatics, Kyoto University),Takashi Sato(Graduate School of Informatics, Kyoto University)
キーワード: SiCパワーMOSFET,E級増幅器,回路シミュレーション,デバイスモデル
要約(日本語): パワーMOSFETの材料として,高耐圧化,高耐温化,高周波化を可能とするSiCに注目が集まっている.電力変換回路にSiC パワーMOSFET を用いることで,回路の一層の性能向上が期待される.特に,E級電力変換回路に代表される共振型回路の設計では,回路シミュレーションによる回路定数の最適化が重要となる.我々の研究グループは表面電位モデルに基づくSiCパワーMOSFETモデルを提案しており,本稿では,回路シミュレーションによるE級増幅器の設計例を通じて,表面電位モデルが設計に適用可能であることを示す.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 184 Kバイト
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