Dual Active Bridgeコンバータのデッドタイム最適化に関する実験的検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-107

グループ名: 【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集

発行日: 2016/03/05

タイトル(英語): Experimental verification of the optimization of dead time for Dual Active Bridge Converter

著者名: 陳 偉夫(筑波大学),飯嶋 竜司(筑波大学),磯部 高範(筑波大学),只野 博(筑波大学),川波 靖彦(安川電機),寺園 勝志(安川電機)

著者名(英語): Weifu Chen(University of Tsukuba),Ryuji Iijima(University of Tsukuba),Takanori Isobe(University of Tsukuba),Hiroshi Tadano(University of Tsukuba),Yasuhiko Kawanami(Yaskawa Electric Corp),Katsushi Terazono(Yaskawa Electric Corp)

要約(日本語): 近年，次世代配電網向けパワーエレクトロニクス機器の小型化，高効率化が要求されている。特に，従来の大重量で大型な商用周波数トランスの代わりに，パワーデバイス等から構成され，低重量，小型，制御可能なSST（ソリッドステートトランス）に関する研究が盛んである。Dual Active Bridge（DAB）コンバータはSSTの絶縁DC-DC変換部分として，最も注目を集めている。SiCパワーデバイスを用いて，より高い周波数で動作でき，さらに小型な変換回路が望まれる。SiC-MOSFETを用いて作ったDABコンバータの効率，損失とデッドタイムの関係を検証するために実験を行ったので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 622 Kバイト