Y 系薄膜線材のクエンチ時の加熱による臨界電流劣化特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-101

グループ名: 【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集

発行日: 2016/03/05

タイトル(英語): Degradation of critical current of YBCO tape by temperature rise

著者名: 松田 直大(上智大学),中山 大樹(上智大学),有山 隆紘(上智大学),松尾 竜太(上智大学),高尾 智明(上智大学),塚本 修巳(上智大学)

著者名(英語): Naohiro Matsuda(Sophia University),Daiki1daiki.3518@gmail.com Nakayama(Sophia University),Takahiro Ariyama(Sophia University),Ryuta Matsuo(Sophia University),Tomoaki Takao(Sophia University),Osami Tsukamoto(Sophia University)

キーワード: 高温超電導コイル

要約(日本語): HTSコイルのクエンチによる損傷の原因の1つとして、線材の加熱による熱的劣化が考えられる。我々はY系薄膜線材について室温で通電加熱することにより線材の温度上昇に伴う線材の臨界電流劣化特性について調査した。試験用のサンプルとして、安定化層の銅の厚み40, 100 ?mの2種類のYBCO線材を用い、室温でクエンチを模擬したパルス電流を流して実験を行った。室温加熱試験の後、液体窒素中で臨界電流値を測定し、室温通電加熱試験前に液体窒素中で測定した初期臨界電流値と比較し劣化特性を調査した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 414 Kバイト