電流低下率が及ぼすポストアークのコンダクタンス低下時間

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-006

グループ名: 【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集

発行日: 2016/03/05

タイトル(英語): Conductance Decrement Time of Post Arc Affected by Current Decrement Ratio

著者名: 鈴木 大智(東京都市大学),佐藤 健(東京都市大学),小野 世瑞(東京都市大学),山本 真司(東京都市大学),岩尾 徹(東京都市大学)

著者名(英語): Suzuki Daichi(Tokyo City University),Sato Ken(Tokyo City University),Ono Seisui(Tokyo City University),Yamamoto Shinji(Tokyo City University),Iwao Toru(Tokyo City University)

キーワード: ガス遮断器,器壁安定化アーク,電流低下率,アークコンダクタンス,アーク温度

要約(日本語): ガス遮断器において遮断後にアークが再点弧する問題がある。高温ガスの残留が再点弧の原因であるが，事故電流をより速く遮断するほど高温ガスが残留する。したがって本論文では，電流低下率が及ぼすポストアークのコンダクタンス低下時間の解析を，電磁熱流体シミュレーションを用いて行った。電流低下率が高い場合は，電流零点時の軸方向流速が増加するため，コンダクタンス低下時間が長くなる。これは，コンダクタンスを2 mS以下に低下させるために必要な軸方向に低い導電率の空間が発生しにくくなるため生じる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 344 Kバイト