太陽光発電システムの診断法に関する研究-I-V特性によるバイパスダイオードの故障診断法（その5）-

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-027

グループ名: 【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集

発行日: 2016/03/05

タイトル(英語): Study on Diagnostic Method of Photovoltaics System -Method for Failure Evaluation of Bypass Diode by I-V Curve (Part 5)-

著者名: 佐藤 孝俊(名城大学),羽田 健太郎(名城大学),山中 三四郎(名城大学)

著者名(英語): Takatoshi Sato(Meijo University),Kentaro Hada(Meijo University),Sanshiro Yamanaka(Meijo University)

キーワード: 太陽光発電システム,保守点検技術,バイパスダイオード,電流電圧特性

要約(日本語): 筆者らは，一つのI-V特性からバイパスダイオードの短絡・開放故障を同時に判定する方法を検討している。これまでに，住宅用太陽光発電システム程度のモジュール直列数であれば，遮光部のバイパスダイオードが一個だけ短絡・開放した場合を判定できる事を示した。この方法では，開放故障はI-V特性の段差の有無により判定できるが，短絡故障はI-V特性から算出する電圧比率により判定を行う。したがって，短絡故障数が増えると，判定が難しくなる事が懸念される。本稿では，遮光部のBPDの短絡故障数を増やした場合に，正常な状態と短絡状態を判定できるか検討した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 190 Kバイト