区間推定法を用いたPV モジュールの不具合判定に関する基礎的考察(その2)

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-029

グループ名: 【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集

発行日: 2016/03/05

タイトル(英語): Fundamental Study of Failure Judgment of PV Module Using the Interval Estimation Method (Part 2)

著者名: 神谷 菜月(名城大学),石戸谷 有我(名城大学),山中 三四郎(名城大学),井上 泰宏(トーエネック),西戸 雄輝(トーエネック),小林 浩(トーエネック)

著者名(英語): Natsuki Kamiya(Meijo University),Yuga Ishitoya(Meijo University),Sanshiro Yamanaka(Meijo University),Yasuhiro Inoue(Toenec Corporation),Yuki Nishido(Toenec Corporation),Hiroshi Kobayashi(Toenec Corporation)

キーワード: 太陽光発電,I-V特性,CF,重回帰分析,区間推定

要約(日本語): 筆者らはPVアレイの点検方法の一つであるI-V特性の測定に着目し，I-V特性の数値化（CF値）によってI-V特性の僅かな変形の検出方法を検討してきた。これまでの研究から，CF値に対して重回帰分析の区間推定法を用いると，単結晶・多結晶モジュールは同じ重回帰式で不具合判定ができるとわかった。本報はこの結果の更なる裏付けとして，同じ周囲条件でもCF推定値は同じ値になるか，3通りの条件で検討した。その結果，周囲条件が同じであれば，単結晶・多結晶モジュールのCF推定値は同じ値となることを確認した。このことから，単結晶・多結晶モジュールは同じ重回帰式で不具合判定ができ，モジュール毎に重回帰式を求める必要はないと考えられる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 262 Kバイト