確率論的手法に基づく汚損がいしフラッシオーバ危険率の評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-096

グループ名: 【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集

発行日: 2016/03/05

タイトル(英語): Probabilistic Assessment of Risk of Flashover of Contaminated Insulators

著者名: 福原 済真(名古屋工業大学),石川 航也(名古屋工業大学),水野 幸男(名古屋工業大学),前田 元宏(日本ガイシ),近藤 邦明(日本ガイシ),林 朋宏(日本ガイシ)

著者名(英語): Yoshimasa Fukuhara(Nagoya Institute of Technology),Koya Ishikawa(Nagoya Institute of Technology),Yukio Mizuno(Nagoya Institute of Technology),Motohiro Maeda(NGK Insulators, Ltd.),Kuniaki Kondo(NGK Insulators, Ltd.),Tomohiro Hayashi(NGK Insulators, Ltd.)

キーワード: がいし,汚損,フラッシオーバ,確率論的手法

要約(日本語): 汚損がいし連の合理的設計手法として、汚損フラッシオーバに影響を与える要因の確率分布を用いてフラッシオーバ危険率の評価関数を導出し、表面湿潤のばらつきによる危険率への影響を評価した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 340 Kバイト