計測・半導体試験装置用GaNスイッチデバイスの技術と応用

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-S14-5

グループ名: 【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集

発行日: 2016/03/05

著者名: 君島 正幸(アドバンテスト研究所)

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 467 Kバイト