電源線から入力するEFT/Bに対する耐性向上の検討
電源線から入力するEFT/Bに対する耐性向上の検討
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-022
グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集
発行日: 2017/03/05
タイトル(英語): Consideration of suppression of EFT/B in the Power Line
著者名: 佐々木 秀勝(東京都立産業技術研究センター),佐野 宏靖(東京都立産業技術研究センター),大森 学(東京都立産業技術研究センター)
著者名(英語): Hidekatsu Sasaki(Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute),Hiroyasu Sano(Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute),Manabu Oomori(Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute)
キーワード: EFT/B|電気的ファストトランジェントバースト|EMS|イミュニティ試験
要約(日本語): イミュニティ試験の1つであるEFT/Bは、高速なパルス波形を製品に入れることで誤動作が起きないことを確認する試験であり、低電圧化する電子製品の誤動作は増加傾向にある。そこで、EFT/Bに対して耐性を持たせるための対策方法について提案した。電源線から入力されたEFT/Bによって基板に発生した電圧を高電圧差動プローブによって観測することで、誤動作の要因の1つにEFT/BによるICの電源電圧変動が挙げられることを示した。次に、基板の電源部分の等価回路を作成し、ICの電源電圧変動を抑制する箇所を回路シミュレータを用いることで明らかにした。EFT/Bによる電位差がICの正常動作を確保できる程度に抑制した基板を作製し、EFT/Bによる誤動作が起きないことを示した。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 245 Kバイト
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