ESD試験におけるシリコーンゲルで封止したプリント配線板上パターン導体間のフラッシオーバ電圧に及ぼす電極突起の影響
ESD試験におけるシリコーンゲルで封止したプリント配線板上パターン導体間のフラッシオーバ電圧に及ぼす電極突起の影響
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-075
グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集
発行日: 2017/03/05
タイトル(英語): Effect of electrodes on the flashover voltage of printed wiring pattern conductors insulated with silicone gel under the ESD test
著者名: 松本 康貴(九州工業大学),神代 真也(九州工業大学),福山 晃大(九州工業大学),大塚 信也(九州工業大学)
著者名(英語): Koki Matsumoto(Kyushu Institute of Technology),Shinya Kojiro(Kyushu Institute of Technology),Fukuyama Akihiro(Kyushu Institute of Technology),Shinya Ohtsuka(Kyushu Institute of Technology)
キーワード: ESD|プリント配線|フラッシオーバ電圧|シリコーンゲル|電極突起
要約(日本語): 筆者はこれまで、大気およびシリコーンゲル封止プリント配線板上円盤状パターン導体間でのフラッシオーバ電圧(FOV)特性を、ESD試験器を用いてギャップ長を変化させて測定している。シリコーンゲルの絶縁特性の理解には、封止するプリント基板の配線パターンによる電界形成の違いが絶縁性能にどのくらい影響を及ぼすかの理解が必要である。本論文では、ESD試験器を用いたシリコーンゲルと大気中におけるフラッシオーバプリント配線板上フラッシオーバ電圧特性の導体パターン電極形状依存性について従来の円盤対向電極と高圧側に30°の突起を設けた対向電極の2種類の電極において比較検討した。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 252 Kバイト
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