架橋剤分解残渣によるポリエチレンの直流絶縁性低下の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-024

グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集

発行日: 2017/03/05

タイトル(英語): Investigation for Degradation of DC Insulating Characteristics due to Cross-linking By-products in Polyethylene

著者名: 金井 雄大(東京都市大学),藤富 寿之(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学)

著者名(英語): Takehiro Kanai(Tokyo City University),Toshiyuki Fujitomi(Tokyo City University),Hiroaki Miyake(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University)

キーワード: 架橋剤分解残差|空間電荷分布|架橋ポリエチレン|低密度ポリエチレン|アセトフェノン|クミルアルコール

要約(日本語): XLPEの製造時に発生する架橋剤分解残渣が材料の直流絶縁性を低下させていると言われている。そこで本研究では、架橋剤分解残渣であるアセトフェノンとクミルアルコール、およびその混合液に浸漬した各試料の、空間電荷分布と外部回路電流を、同一試料上で測定し、各架橋剤分解残渣およびその混在が材料の直流絶縁性に与える影響を検討した。その結果、絶縁破壊の発生や電流値の増加から、アセトフェノンに対しクミルアルコールが材料の直流絶縁性の低下を引き起こし、さらに、大幅な電流値の増加や早期の絶縁破壊が発生したことにより、これら2つを複合すると、相乗効果により、絶縁性が大きく低下することがわかった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 264 Kバイト