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高エネルギー電子線照射による絶縁材料の二次電子放出係数の変化

高エネルギー電子線照射による絶縁材料の二次電子放出係数の変化

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-040

グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集

発行日: 2017/03/05

タイトル(英語): Change of secondary electron emission yield of insulating material by high energy electron beam irradiation

著者名: 佐藤 奈摘(東京都市大学),谷口 大明(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学)

著者名(英語): Natsumi Sato(Tokyo City University),Hiroaki Taniguchi(Tokyo City University),Hiroaki Miyake(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University)

キーワード: 二次電子放出係数|電子線

要約(日本語): 宇宙機は宇宙空間に存在する高エネルギー放射線に曝されると表面材料が帯電し、過度に帯電すると静電放電が発生する。放電の発生は材料の劣化や機器の故障を招くため、設計段階において材料の帯電解析が行われ、本研究グループでは、この解析に必要なパラメータの一つである二次電子放出係数 (SEEY) について研究を行っている。本研究では特に高エネルギー電子線照射によって生じる材料の劣化にともなうSEEYの変化に着目している。絶縁材料のSEEYについてはこれまでも測定を行ってきたが、今回は従来用いてきた装置を改良し、高エネルギー電子線照射直後のSEEY測定を可能とすることにより、高エネルギー電子線照射によるSEEYの変化を調査したので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 344 Kバイト

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