テラヘルツ分光による室温放射線劣化および熱劣化シリコーンゴムの解析

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-041

グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集

発行日: 2017/03/05

タイトル(英語): Terahertz Spectroscopic Analysis of Silicone Rubber Aged by Heat or Radiation at Room Temperature

著者名: 兼子 拓也(早稲田大学),小高 大祐(早稲田大学),平井 直志(早稲田大学),大木 義路(早稲田大学)

著者名(英語): Takuya Kaneko(Waseda University),Daisuke Odaka(Waseda University),Naoshi Hirai(Waseda University),Yoshimichi Ohki(Waseda University)

キーワード: 絶縁材料|電気絶縁|分光分析|劣化診断|酸化|架橋

要約(日本語): シリコーンゴム（SiR）の室温放射線劣化および熱劣化に伴う吸収の変化をテラヘルツ（THz）分光と赤外分光により解析した。その結果，総線量1460?2130kGyの室温放射線劣化では，分子鎖切断の進行とともにカルボニル基の吸収が増加し，1.0?5.0THzでの吸収の増加が見られる。一方，265℃で600?2382時間の熱劣化では，架橋が進行し，1.1THzでの吸収の減少，4.1，4.6THzでの吸収の増加が見られる。これらのTHz吸収変化の違いにより，分子鎖切断もしくは架橋というSiRの2種類の劣化形態を判別することができる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 472 Kバイト