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一次元単板試験器を用いた二次元磁気特性測定法に関する基礎的検討
一次元単板試験器を用いた二次元磁気特性測定法に関する基礎的検討
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カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-090
グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集
発行日: 2017/03/05
タイトル(英語): Fundamental Study on a Measurement Method of 2-D Magnetic Properties by Means of 1-D Single Sheet Tester
著者名: 木村 有佑(同志社大学),髙橋 康人(同志社大学),藤原 耕二(同志社大学)
著者名(英語): Yusuke Kimura(Doshisha University),Yasuhito Takahashi(Doshisha University),Koji Fujiwara(Doshisha University)
キーワード: 二次元磁気特性|単板磁気特性試験器|長手方向
要約(日本語): 二次元磁気特性を測定する際に用いられる二次元磁気単板特性試験器(2-D SST)の構造は非常に複雑であり,高精度な二次元磁気特性の測定は容易ではない.本稿では,単純な構造の一次元単板磁気特性試験器(1-D SST)を用いた二次元磁気特性測定に関して検討を行った.1-D SST内で磁束が励磁方向を向いていれば,二次元磁気特性をモデル化できるが,1-D SST内で磁束の向きと励磁方向が一致しているとは限らない.そこで,60 mm幅長方形試料の方向性電磁鋼板における磁束密度の方向を測定したが,磁束密度は長手方向を向いていなかった.この問題の改善に向けて,交差したHコイルを用いて磁界の強さの方向を測定し,試料幅を変更した際の磁界解析を行った.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 653 Kバイト
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