S形状磁区を有した高周波キャリア型薄膜磁界センサと非破壊検査への応用

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-109

グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集

発行日: 2017/03/05

タイトル(英語): Study on Nondestructive Inspection using Thin-Film Magnetoimpedance Sensor with S-shape Domain Wall

著者名: 中居 倫夫(宮城県産業技術総合センター)

著者名(英語): Tomoo Nakai(Industrial Technology Institute, Miyagi Prefectural Government)

キーワード: 磁気センサ|薄膜|インピーダンス|磁区|非破壊検査|異物検出

要約(日本語): 高周波キャリア型薄膜磁界センサは，小型矩形状に成形したアモルファス軟磁性薄膜に幅方向の一軸磁気異方性を誘導した素子であり，これに高周波電流を通電し，外部磁界の変化に応じて生じる素子のインピーダンス変化を高周波回路の手法を利用して検出する高感度磁界センサである。本報告では，検出する外部磁界が変化した際に生じる素子インピーダンスの階段状変化やヒステリシス特性などセンサを実用化する際に問題となる特性が発生しない滑らかなインピーダンス変化特性を有した素子に特徴的な磁区形状を報告し，これを工業製品や原材料内部に混入した異物の非破壊検査に適用する方法を提案する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 317 Kバイト