マイクロリアクタ向け不斉分析用偏光分析CMOSイメージセンサの消光性能向上

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-114

グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集

発行日: 2017/03/05

タイトル(英語): Performance improvement of a polarization-analyzing CMOS image sensor for micro reactor systems

著者名: 宮崎 駿佑(奈良先端科学技術大学院大学),中塚 篤志(奈良先端科学技術大学院大学),中野 百恵(奈良先端科学技術大学院大学),春田 牧人(奈良先端科学技術大学院大学),野田 俊彦(奈良先端科学技術大学院大学),笹川 清隆(奈良先端科学技術大学院大学),徳田 崇(奈良先端科学技術大学院大学),西山 靖浩(奈良先端科学技術大学院大学),垣内 喜代三(奈良先端科学技術大学院大学),太田 淳(奈良先端科学技術大学院大学)

著者名(英語): Shunsuke Miyazaki(Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology),Atsushi Nakatsuka(Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology),Momoe Nakano(Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology),Makito Haruta(Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology),Toshihiko Noda(Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology),Kiyotaka Sasagawa(Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology),Takashi Tokuda(Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology),Yasuhiro Nishiyama(Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology),Kiyomi Kakiuchi(Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology),Jun Ohta(Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology)

キーワード: マイクロリアクタ|CMOSイメージセンサ|偏光分析|不斉分析

要約(日本語): 近年、化学反応の高効率化や試薬量削減の観点からマイクロリアクタと呼ばれる微小反応器システムが注目されている。我々はマイクロリアクタでの利用を想定した、偏光分析CMOSイメージセンサベース不斉計測装置の開発を行ってきた。しかし、過去の研究で開発したセンサは隣り合う画素同士のクロストークの影響から偏光子搭載画素における出力の値が平滑化され、偏光分析性能(消光比)が低下するといった問題があった。本稿では、クロストークの抑制による消光比の向上を目的として新たに設計した偏光分析CMOSイメージセンサについて報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 285 Kバイト