高温下での直流電圧ストレス印加によるアルミ電解コンデンサ加速劣化試験

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-078

グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集

発行日: 2017/03/05

タイトル(英語): Accelerated Aging Test of an Aluminum Electrolytic Capacitor with DC Voltage Stress under a High Temperature Condition.

著者名: 津崎 孝典(九州工業大学),長谷川 一徳(九州工業大学),西澤 伸一(九州工業大学／産業技術総合研究所)

著者名(英語): Kousuke Tsuzaki(Kyusyu Institute of Technology),Kazunori Hasegawa(Kyusyu Institute of Technology),Shin-ichi Nishizawa(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)

キーワード: アルミ電解コンデンサ|直流電圧|加速劣化試験

要約(日本語): コンデンサは，パワーエレクトロニクス機器の小型化と信頼性向上の制約の一つとなっている。コンデンサは熱に弱く低寿命であり，機器の故障の主な原因となっている。アルミ電解コンデンサは安価で小型かつ大容量を実現できることから多くのアプリケーションで使用されているが，損失が大きく，周波数特性や温度特性が他のコンデンサより劣る。損失は，リプル電流とESR（Equivalent Series Resistance）で計算される。さらに，筆者らは印加される直流電圧によっても損失が変化することを明らかにした。アルミ電解コンデンサは高温下において劣化が加速し，静電容量の低下とESRの増加に影響を与える。一方で，直流電圧の違いによる静電容量とESRの劣化の傾向は明らかになっていない。本稿では，直流電圧ストレス印加による静電容量とESRの変化を測定し，直流電圧ストレスと劣化の関係を加速試験によって明らかにする。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 395 Kバイト