誘導雷故障太陽電池モジュールのI-V特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-083

グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集

発行日: 2017/03/05

タイトル(英語): I-V characteristics of damaged PV modules by induced lightning

著者名: 阪井 誉(津山工業高等専門学校),桶 真一郎(津山工業高等専門学校),南野 郁夫(宇部工業高等専門学校),濱田 俊之(宇部工業高等専門学校),藤井 雅之(大島商船高等専門学校),石倉 規雄(米子工業高等専門学校)

著者名(英語): Homare Sakai(National Institute of Technology, Tsuyama College),Shinichiro Oke(National Institute of Technology, Tsuyama College),Ikuo Nanno(National Institute of Technology, Ube College),Toshiyuki Hamada(National Institute of Technology, Ube College),Masayuki Fujii(National Institute of Technology, Oshima College),Norio Ishikura(National Institute of Technology, Yonago College)

要約(日本語): 本報では，誘導雷によって故障した太陽電池モジュールのI-V特性を実測し，バイパスダイオード（BPD）の故障を模擬したシミュレーション結果と比較した。I-V特性は，バイポーラ電源を用いて暗状態において1回あたり30sかけて5回繰り返して計測した。また，3個すべてのBPDが抵抗故障した場合をシミュレーションした。このとき， BPDの故障抵抗値は0.1?100Ωの範囲で変化させた。結果として故障モジュールのI-V特性は正常なモジュールとは大きく異なっており，計測を繰り返すとグラフの形状が変化した。また，BPDの発熱を確認した。故障を模擬したシミュレーション結果と比較し，雷故障モジュールのBPDの故障抵抗値は0.1?0.3Ωであると推測した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 289 Kバイト