JT-60SA中心ソレノイドにおける共振現象の電圧分布への影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-134

グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集

発行日: 2017/03/05

タイトル(英語): Effect of Resonance Phenomenon on Voltage Distribution in Central Solenoid of JT-60SA

著者名: 那須 京介(上智大学),中村 一也(上智大学),鈴木 一輝(上智大学),藤山 奨(上智大学),村上 陽之(量子科学技術研究開発機構),夏目 恭平(量子科学技術研究開発機構),木津 要(量子科学技術研究開発機構)

著者名(英語): Nasu Keisuke(Sophia University),Nakamura Kazuya(Sophia University),Suzuki Kazuki(Sophia University),Fujiyama Shou(Sophia University),Murakami Haruyuki(National Institues for Quantum and Radiological Science and Technology),Natsume kyouhei(National Institues for Quantum and Radiological Science and Technology),Kizu Kaname(National Institues for Quantum and Radiological Science and Technology)

キーワード: JT-60SA|中心ソレノイド|共振現象|耐電圧

要約(日本語): JT-60SA用中心ソレノイド (CS) は4つのモジュールから成り、1モジュールは8層パンケーキコイル6個と4層パンケーキコイル1個の計52層のパンケーキコイルで構成される。1モジュールあたり10 kVの端子間電圧が印加されるため、理想的に分圧した場合には一つの層間に0.38 kVの電圧が掛かる。しかし、共振現象による不均一な電圧分布によって最大層間電圧は理論値よりも大きくなる可能性がある。本研究ではCSモデルコイルを用いて解析モデルを作成し、CS(24層まで)において共振時における電圧分布不均一性について評価した。解析の結果、CSの電源での主要な周波数領域では導体間の絶縁の耐電圧を超えることはないことが示された。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 332 Kバイト