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真空中の絶縁破壊過程におけるフレアプラズマの電極材料依存性評価

真空中の絶縁破壊過程におけるフレアプラズマの電極材料依存性評価

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-031

グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集

発行日: 2017/03/05

タイトル(英語): Electrode Material Dependence of Plasma Flare in Vacuum Breakdown Process

著者名: 永井 裕之(東京大学),山口 正太郎(東京大学),松岡 成居(東京大学),熊田 亜紀子(東京大学),日髙 邦彦(東京大学),稲田 優貴(埼玉大学),塩入 哲(東芝),市川 貴善(東芝)

著者名(英語): Hiroyuki Nagai(The University of Tokyo),Shotaro Yamaguchi(The University of Tokyo),Shigeyasu Matsuoka(The University of Tokyo),Akiko Kumada(The University of Tokyo),Kunihiko Hidaka(The University of Tokyo),Yuki Inada(Saitama University),Tetsu Shioiri(Toshiba Corporation),Takayoshi Ichikawa(Toshiba Corporation)

キーワード: フレアプラズマ|真空遮断器|絶縁破壊

要約(日本語): 本稿ではアノードを銅クロム(Cr:25%)、カソードを銅にした場合と、アノードをタングステン、カソードを銅にした場合のフレア進展を、ハイスピードカメラSIM(Specialized Imaging社製)を用いて観測した。絶縁破壊後どちらもアノード、カソードからフレアが進展していく様子が見られた。アノードフレアはアノード表面の蒸発によって生じるため、融点の高いタングステンの方が蒸発しにくくアノードフレアの体積は小さくなると考えられる。しかし、アノードをタングステンとした方が、アノードフレアの体積は大きく、アノードフレア優勢の絶縁破壊が起こっていた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 354 Kバイト

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