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Hot spotの発生した太陽電池モジュールのEL画像の考察

Hot spotの発生した太陽電池モジュールのEL画像の考察

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-011

グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集

発行日: 2017/03/05

タイトル(英語): Consideration of EL image of the solar cell module with hot spot.

著者名: 竹下 隆一朗(名城大学),山中 三四郎(名城大学),青山 泰宏(トーエネック),西戸 雄輝(トーエネック),小林 浩(トーエネック)

著者名(英語): Ryuichiro Takeshita(Meijo University),Sanshiro Yamanaka(Meijo University),Yasuhiro Aoyama(TOENEC CORPORATION),Yuki Nishido(TOENEC CORPORATION),Hiroshi Kobayashi(TOENEC CORPORATION)

キーワード: 太陽光発電システム|EL画像

要約(日本語): 現在,太陽電池モジュール(以下,モジュール)の診断方法としてI-V特性,熱画像が使用されているが,近年ではEL画像という新たな手法が用いられるようになった。EL画像とは太陽電池に強制的に電流を流し,目には見えない不具合を発見する手法であるしかし,EL画像について明らかになっていないことは多い。筆者らはEL画像から得られる情報を明らかにするため,本報ではホットスポットが発生したモジュールのEL画像の考察を行ったので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 250 Kバイト

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