IR画像解析による太陽電池モジュール不具合検出手法の開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-012

グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集

発行日: 2017/03/05

タイトル(英語): Development of method of defect detection in photovoltaic modules by analysis of infrared images

著者名: 神谷 健司(東京理科大学),植田 譲(東京理科大学)

著者名(英語): Kenji Kamiya(Tokyo University of Science),Yuzuru Ueda(Tokyo University of Science)

キーワード: 太陽光発電|故障検出|不具合検出|IR画像|赤外線画像

要約(日本語): 近年急激に拡大してきた太陽光発電(PV: Photovoltaics)システムの市場では，システムの健全性を維持し，売電機会損失を最小限に抑えるPVシステムの保守メンテナンスが必要となっている。現在PVシステムの故障検出手法であるIR(infrared:赤外線)画像解析の多くは人によって評価が行われている。人による故障評価は温度スケールや日射条件によって故障個所を見落としてしまう可能性がある。本研究では目視で見落としてしまうような故障の検出を可能にする不具合検出手法の開発を目的とする。本論文では，IR画像からモジュール検出し，セルに対応するエリアに分割して温度評価を行う不具合検出アルゴリズムについて報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 665 Kバイト