PVパネルの光量低下に起因する不具合の検出手法の検討
PVパネルの光量低下に起因する不具合の検出手法の検討
カテゴリ: 全国大会
論文No: 7-029
グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集
発行日: 2017/03/05
タイトル(英語): Investigation on Failure Detection Method of PV Panel Due to Light Intensity Reduction
著者名: 長山 智哉(茨城大学),岩田 直己(茨城大学),菅谷 篤司(茨城大学),田中 正志(茨城大学),乾 義尚(滋賀県立大学)
著者名(英語): Tomoya Nagayama(Ibaraki University),Naoki Iwata(Ibaraki University),Atsushi Sugaya(Ibaraki University),Tadashi Tanaka(Ibaraki University),Yoshitaka Inui(The University of Shiga Prefecture)
キーワード: PVパネル|不具合検出|キセノンフラッシュランプ|CR直列回路
要約(日本語): 普及が進んだ太陽光発電の問題点として、不具合や劣化による発電量の低下がある。そこで我々は、光量の低下に起因するPVパネルの不具合検出手法を提案し、それを実現する装置を開発した。不具合検出手法としては、PVパネルに光を当て、発電した際のエネルギーをキャパシタに充電させる。ここで、この充電量はパネルの発電量に起因して変化するため、このキャパシタ充電量から不具合を発見する仕組みである。本研究では、シミュレーションと試作機を用いた実験により、提案手法の有効性を検討した。その結果、キャパシタに充電される電圧を性能評価指標とすることで不具合の検出が可能であることが明らかとなった。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 551 Kバイト
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