非接触型表面抵抗率測定法を用いたSiR表面の劣化・汚損度評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-104

グループ名: 【全国大会】平成29年電気学会全国大会論文集

発行日: 2017/03/05

タイトル(英語): Evaluation of deteriorated or polluted level for SiR by a noncontact surface resistivity measurement

著者名: 奥山 裕人(山形大学),杉本 俊之(山形大学)

著者名(英語): Yuto Okuyama(Yamagata University),Toshiyuki Sugimoto(Yamagata University)

キーワード: 表面抵抗率|シリコーンゴム|劣化|汚損

要約(日本語): 電力系統の絶縁物の絶縁特性を表面抵抗率の観点で評価することを目的とし、非接触型表面抵抗率測定法を用いてシリコーンゴム(SiR)の劣化・汚損状態の評価を行い、局部放電発生状況との関係を調べた。試験のSiRとして、表面改質装置を用いて表面を劣化したものとしないもの、乾いた紙製のウエスを表面へ敷いたものとこれを濡らしたものを用いた。これらのSiRの絶縁特性を従来の漏れ電流による評価と比較して調査を行った。その結果、本手法では漏れ電流測定で検知することのできなかった劣化や汚損による絶縁性の低下を試料が濡れる前に検知することができた。このことから、劣化や汚損による局部放電発生の危険性を評価できる可能性を見出した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 190 Kバイト