TEMセルを用いた暗号モジュールへの故障注入攻撃の定量的耐性評価環境の構築

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-036

グループ名: 【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集

発行日: 2018/03/05

タイトル(英語): Proposal of evaluation environment using TEM cell for quantitative evaluation of fault analysis

著者名: 鈴木 太陽(東北学院大学),林 優一(奈良先端科学技術大学院大学),石上 忍(東北学院大学),川又 憲(東北学院大学),嶺岸 茂樹(東北学院大学)

著者名(英語): Taiyo Suzuki(Tohoku Gakuin University),Yuichi Hayashi(Nara Institute of Science and Technology),Shinobu Ishigami(Tohoku Gakuin University),Ken Kawamata(Tohoku Gakuin University),Shigeki Minegishi(Tohoku Gakuin University)

キーワード: 意図的な電磁妨害,故障利用解析,電磁情報セキュリティ

要約(日本語): 現在、暗号モジュールの故障利用解析に用いられる故障注入手法として、パルス波や連続波を与える手法などが報告されている。しかし、このような既存の手法では、周囲の電磁環境の変化に伴い、解析と併せた評価結果に差異が現れる。そこで本研究では、環境の変化に影響されない手法として、TEMセル(Transverse Electro-Magnetic Cell)を用いて周囲の電磁界から測定環境を分離し、定量的な電界を発生させる空間を作ることで、再現性の高い評価環境の提案を行うとともに、暗号機器をTEMセル内に発生させた電界に曝し、故障が発生する割合を比較することで、提案した評価環境の有効性を検証する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 657 Kバイト