電子線照射FEPに生成される電子正孔対の減衰特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-019

グループ名: 【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集

発行日: 2018/03/05

タイトル(英語): Damping characteristics of electron hole pairs generated in electron beam irradiated FEP

著者名: 久保 亘平(東京都市大学),吉田 周吾(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学)

著者名(英語): Kohei Kubo(Tokyo City University),Syugo Yoshida(Tokyo City University),Hiroaki Miyake(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University)

キーワード: パルス静電応力法,空間電荷分布,電子線,電子正孔対,FEP

要約(日本語): 人工衛星等の宇宙機はヴァン・アレン帯で運用されており、宇宙機表面では電子や陽子などに直接曝されることで帯電・放電現象が発生する。放電現象が生じると材料の劣化や搭載機器の誤作動等の事故を招き、宇宙機事故に発展する危険性がある。よって、宇宙機の高信頼化・長寿命化のためには、宇宙機設計段階から適切な構成材料を選択することが重要となる。本研究では、宇宙機の太陽光反射材として用いられているフッ素系絶縁材料であるFEPに電子線を照射し、直流電界下における空間電荷蓄積特性をPEA法により評価している。今回、電子線の照射電流密度を変更し、FEP内に残存する電子正孔対の減衰特性の変化について検討した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 372 Kバイト