PVF線クロス試料におけるピンホール欠陥を模擬した絶縁性能評価
PVF線クロス試料におけるピンホール欠陥を模擬した絶縁性能評価
カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-025
グループ名: 【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集
発行日: 2018/03/05
タイトル(英語): Electrical Insulation Performance Evaluation of Pinhole Simulated Defect in PVF Wire Cross Specimen
著者名: 内村 友紀(九州工業大学),久保 智洋(九州工業大学),溝口 輝(九州工業大学),小迫 雅裕(九州工業大学),匹田 政幸(九州工業大学),下村 好亮(ダイヘン),川上 正剛(ダイヘン),田中 剛(ダイヘン)
著者名(英語): Tomoki Uchimura(Kyushu Institute of Technology),Tomohiro Kubo(Kyushu Institute of Technology),Hikaru Mizoguchi(Kyushu Institute of Technology),Masahiro Kozako(Kyushu Institute of Technology),Masayuki Hikita(Kyushu Institute of Technology),Kosuke Shimomura(DAIHEN Corporation),seigo Kawakami(DAIHEN Corporation),Takeshi Tanaka(DAIHEN Corporation)
キーワード: 柱上変圧器,PVF線,部分放電,絶縁破壊,鉱油,ピンホール
要約(日本語): 本研究では,ポリビニルホルマール(polyvinyl formal: PVF)線を用いた油入変圧器のコイル巻線において,絶縁紙を省いた絶縁構成での長期絶縁性能の信頼性評価を目的としている。しかし,製造過程におけるピンホール欠陥により絶縁性能が低下することが懸念されている。本報告では,パルスレーザーを用いて,PVF線にピンホール模擬欠陥(穴径0.5 mm)を作成した。また,PVF線2本を交差させ,放電発生箇所を1箇所に限定したクロス試料を用い,鉱油中における部分放電開始電圧(partial discharge inception voltage: PDIV)と絶縁破壊電圧(breakdown voltage: BDV)を測定し,ピンホール欠陥の影響を調査した結果について述べる。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 387 Kバイト
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