樹脂封止された絶縁システムモデルにおける部分放電の印加電圧周波数特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-045

グループ名: 【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集

発行日: 2018/03/05

タイトル(英語): Frequency dependence of Partial Discharge Characteristics of Resin Molded Insulation System Model

著者名: 秋永 優也(九州工業大学),真木 洵耶(九州工業大学),松添 宇一(九州工業大学),今給黎 明大(九州工業大学),小迫 雅裕(九州工業大学),匹田 政幸(九州工業大学)

著者名(英語): Yuya Akinaga(Kyushu Institute of Technology),Jyunya Maki(Kyushu Institute of Technology),Takakazu Matsuzoe(Kyushu Institute of Technology),Akihiro Imakiire(Kyushu Institute of Technology),Masahiro Kozako(Kyushu Institute of Technology),Masayuki Hikita(Kyushu Institute of Technology)

キーワード: 部分放電,周波数依存性,V-t試験

要約(日本語): 部分放電は高電圧機器の絶縁材料の劣化および絶縁破壊を促す。高電圧機器の信頼性評価方法として，V-t試験が挙げられるが，長時間を要するという課題がある。そのため，V-t試験では周波数加速が用いられる。本稿では，1.5 kHzまでの高周波V-t試験中でのPD評価試験系を構築し，樹脂封止した絶縁システムモデルのPD特性を評価したので報告する。その結果，PD特性の周波数依存性は平均電荷量では変化は僅かであり，発生頻度は大きく減少した。絶縁材料の部分放電劣化において発生頻度が周波数依存性を持つことは絶縁破壊時間にも大きく影響を与えることが考えられる。そこで著者らは，周波数比に応じた周波数加速係数に加えて，発生頻度を考慮した補正係数を提案する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 379 Kバイト