チップ上の温度勾配の検知にPTAT電圧発生回路を用いた電流制御回路の試作と実測

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-014

グループ名: 【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集

発行日: 2018/03/05

タイトル(英語): Current control circuit using PTAT voltage generation circuit for temperature detection on chip

著者名: 奥 達哉(明治大学),島田 義久(トレックスセミコンダクター),福井 厚夫(トレックスセミコンダクター),関根 かをり(明治大学)

著者名(英語): Tatsuya Oku(Meiji University),Yoshihisa Shimada(TOREX SEMICONDUCTOR LTD),Atuo Fukui(TOREX SEMICONDUCTOR LTD),Kawori Sekine(Meiji University)

キーワード: PTAT電圧発生回路,弱反転領域,サーマルレギュレーション回路,温度

要約(日本語): 近年、スマートフォンに実装されているリチウムイオン電池の爆発、発火が社会問題となっている。この問題の原因の一つとして、充電電流をコントロールする制御回路の誤作動による電池への過充電が挙げられる。今回、誤作動の一因であるチップ上の温度変化に着目した。この問題を解決するためにチップ上の温度を監視する温度センサの必要性が増している。また、小型な電子機器での用途において、センサ回路は小面積かつ低消費電力であることが求められる。 本研究の目的は、温度センサが高い温度を検知した際、電池に流れる充電電流を小さくすることでチップ上の温度を一定に保ち、誤作動を防ぐことである。

原稿種別: 日本語

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