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JT-60SA中心ソレノイドにおける過渡応答による導体間電圧の評価

JT-60SA中心ソレノイドにおける過渡応答による導体間電圧の評価

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-157

グループ名: 【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集

発行日: 2018/03/05

タイトル(英語): Estimation of Voltage between Conductors for Transient Response in JT-60SA Central Solenoid

著者名: 目黒 博嵩(上智大学),藤山 奨(上智大学),那須 京介(上智大学),中村 一也(上智大学),高尾 智明(上智大学),村上 陽之(量子科学技術研究開発機構),夏目 恭平(量子科学技術研究開発機構),木津 要(量子科学技術研究開発機構)

著者名(英語): Hirotaka Meguro|Sho Fujiyama|Keisuke Nasu|Kazuya Nakamura|Tomoaki Takao|Haruyuki Murakami|Kyohei Natsume|Kaname Kizu

キーワード: JT-60SA,回路解析,過渡応答,中心ソレノイド

要約(日本語): JT-60SA中心ソレノイドに用いられる電源はコントロールシステムや電圧のスパイクなどにより電源電圧が変動する可能性がある。そのため中心ソレノイド内部に不均一な電圧分布が生じ、局所的に過電圧がかかるため導体間の絶縁が破壊される可能性がある。先行研究にてCSモデルコイルより得た物性値をもとに、CSモジュール52層の回路解析モデルを作成し電源電圧が変化した際の過渡応答を解析し評価した。解析結果より、実機CSモジュールの動作条件において過渡応答による導体間電圧への影響は極めて小さく、導体間絶縁は破壊されないことが示された。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 342 Kバイト

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