太陽電池アレイにおける異常予測・検知に関する研究－バイパス回路の開放故障検出技術における印加電圧波形の影響－

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-020

グループ名: 【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集

発行日: 2018/03/05

タイトル(英語): Study on Fault Prediction and Detection of PV Array - Effect of Applied Voltage Waveform on Detection Technology for Open Fault of Bypass Circuit -

著者名: 藤田 直希(日本大学),西川 省吾(日本大学),山田 竜也(チノー),根岸 永璃子(チノー),寺田 大亮(チノー),瀧川 隆介(チノー),丸山 信一郎(三井住友建設),新田 智子(構造計画研究所),谷村 晃太郎(住友電気工業)

著者名(英語): Naoki Fujita|Shogo Nishikawa|Ryuya Yamada|eriko Negishi|daisuke Terada|ryusuke Takigawa|Shinitiro Maruyama|Tomoko Nita|Kotaro Tanimura

キーワード: 太陽電池,故障検出,赤外線カメラ

要約(日本語): 太陽電池モジュールのバイパス回路が開放故障した状態で，太陽電池に部分影や劣化等により一部のセルの出力特性が低下するとホットスポットが発生し，それが原因で発熱・発火が起こる場合がある。また，現状の検出方法では故障位置の特定に長時間を必要としたり，日射強度の影響を受けやすいなどの問題があるため短時間で確実な故障検出方法が必要である。筆者らはこれまで一定電圧を印加して太陽電池モジュールの表面温度上昇を測定したが，急激な日射強度などの外乱があると故障検出が困難な場合があった。このため，新たに交流電圧を印加した際の温度上昇値から印加電圧と同じ周波数成分を検出することにより，故障部分を特定する技術を検討した。本稿では，印加電圧波形の影響について調査したので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 591 Kバイト