太陽電池アレイにおける異常予測・検知に関する研究－バイパス回路開放故障検出技術における印可電圧が及ぼす影響－

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-021

グループ名: 【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集

発行日: 2018/03/05

タイトル(英語): Study on Fault Prediction and Detection of PV Array -Effect of Applied Voltage on Open Fault Detection Technology of Bypass Circuit-

著者名: 山田 竜也(チノー),根岸 永璃子(チノー),寺田 大亮(チノー),瀧川 隆介(チノー),藤田 直希(日本大学),西川 省吾(日本大学),丸山 信一郎(三井住友建設),谷村 晃太郎(住友電気工業),新田 智子(構造計画研究所)

著者名(英語): Ryuya Yamada(Chino Corporation),Eriko Negishi(Chino Corporation),Daisuke Terada(Chino Corporation),Ryusuke Takigawa(Chino Corporation),Naoki Fujita(Nihon University),Shogo Nishikawa(Nihon University),Shinichiro Maruyama(Sumitomo Mitsui Construction company limited),Kotaro Tanimura(Sumitomo Electric Industries limited),Tomoko Nitta(Kozo Keikaku Engineering Incorporated)

キーワード: 太陽電池,直流電源,赤外線カメラ,バイパス回路,開放故障

要約(日本語): 太陽電池モジュールのバイパス回路が開放故障すると，モジュールに部分影がかかった際に，セルに逆電圧がかかりホットスポットになる恐れがある．そこで太陽光モジュールに特定の周波数を持った逆電圧を印可し，赤外線カメラを用いて太陽電池表面の温度変化を観察することで，ストリング内のバイパス回路の開放故障を検出する技術を開発した．本研究では印加電圧の大きさが及ぼす検出能力への影響について検証した．日射強度により，印加電圧がモジュールの温度上昇へ与える影響が異なることから，バイパス回路の開放故障検知に必要な最低限の印可電圧を把握することで，検査時におけるモジュールへの負荷を最小限に抑えることができると考える．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 633 Kバイト