太陽電池モジュールの高速信頼性試験の開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-026

グループ名: 【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集

発行日: 2018/03/05

タイトル(英語): Development of Highly Accelerated Reliability Testing for PV Modules.

著者名: 藤森 正成(日立製作所),河野 亨(日立製作所),五木田 健一(日立製作所),中村 知治(日立製作所),津野 裕紀(テュフラインランドジャパン),守田 賢吾(テュフラインランドジャパン)

著者名(英語): Masaaki Fujimori(Hitachi, Ltd.),Tohru Kohno(Hitachi, Ltd.),Kenichi Gokita(Hitachi, Ltd.),Tomoharu Nakamura(Hitachi, Ltd.),Yuki Tsuno(TUV Rheinland Japan Ltd.),Kengo Morita(TUV Rheinland Japan Ltd.)

キーワード: 太陽電池モジュール,信頼性,加速試験,温度サイクル

要約(日本語): 太陽電池モジュールは長期間に渡り屋外で日射・風雨に晒されるため、その長期信頼性は極めて重要である。IECの認証試験は長期信頼性を担保しないため、長期信頼性を調べるには認証試験を繰り返し実施することなどが行われてきたが、試験時間が長期化する問題があった。我々は短期間でモジュールの長期信頼性を調べることができる加速試験を開発してきた。実用上、最もシェアが高いシリコン系モジュールに対象を限定、曝露で生ずる最高頻度の劣化が配線関係であることから温度サイクル試験に特化し、IEC61215の温度サイクル試験から過ストレスとならない範囲で試験構築を目指した。その結果、温度差とサイクル時間を変えることにより加速係数2.3の試験を開発した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 330 Kバイト