熱画像によるRshの低下判定に関する研究－複数のPVモジュールでの判定方法の検証－

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-032

グループ名: 【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集

発行日: 2018/03/05

タイトル(英語): Study on Decision of Shunt Resistance Deterioration Using Thermal Images －Verification of Decision Method Using Photovoltaic Modules－

著者名: 佐藤 弘輝(名城大学),澤田 賢(名城大学),山中 三四郎(名城大学),青山 泰宏(トーエネック),西戸 雄輝(トーエネック),小林 浩(トーエネック)

著者名(英語): Hiroki Sato(Meijo University),Satoshi Sawada(Meijo University),Sanshiro Yamanaka(Meijo University),Yasuhiro Aoyama(TOENEC CORPORATION),Yuki Nishido(TOENEC CORPORATION),Hiroshi Kobayashi(TOENEC CORPORATION)

キーワード: 太陽電池,熱画像,セルのシャント抵抗

要約(日本語): 現在、太陽電池（PV）の長期運転に伴う特性変化については十分に明らかとされていない。我々は、屋外での長期運転によって、セルのシャント抵抗（Rsh）が低下すると考えている。しかし、これを検証するためには、Rshの低下を簡単に判定する方法が必要である。そこで、我々は熱画像を用いることでRshが低下したセルを簡単に判定することができると考えた。本研究では、熱画像によるRshの低下判定方法の確立を目指し、複数のPVモジュールでRshの低下判定を行い、判定方法の有効性について検討した。その結果、対象とした全てのモジュールで発熱温度からRshの低下したセルを判定することができ、判定方法の有効性を確認できた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 428 Kバイト