ガラス割れモジュールのEL発光面積と短絡電流の関係

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-033

グループ名: 【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集

発行日: 2018/03/05

タイトル(英語): Correlation between EL emission area and short circuit current in PV module with broken glass

著者名: 澤田 賢(名城大学),佐藤 弘輝(名城大学),山中 三四郎(名城大学),青山 泰宏(トーエネック),西戸 雄輝(トーエネック),小林 浩(トーエネック)

著者名(英語): Satoshi Sawada|Hiroki Sato|Sanshiro Yamanaka|Yasuhiro Aoyama|Yuki Nishido|Hiroshi Kobayashi

キーワード: 太陽電池,I-V特性,EL画像

要約(日本語): PVモジュールの不具合を診断する方法としてEL画像を用いた方法があるが，EL画像と電気的特性との関係性については明らかになっていない。本報告では意図的に前面の強化ガラスを破壊したモジュールを用い，EL画像の発光面積と短絡電流についてセル単位で検討を行なった。だが，セルの短絡電流を直接算出することが難しいため，本報告では正常なモジュールの短絡電流と部分発光セルの短絡電流の比(Isc’/Isc)を求めて指標とした。検討の結果，ガラスの損傷したモジュールを用いて測定を行なったところ，EL発光面積とIsc’/Iscの平均割合には比例の関係があると推察できた。今後はガラスの損傷した他のモジュールでも同様の結果が得られるか検討する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 287 Kバイト