微分・位相幾何学的考え方を用いたCVケーブル半導電層の抵抗率測定方法の理論?一応用例?

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-123

グループ名: 【全国大会】平成30年電気学会全国大会論文集

発行日: 2018/03/05

タイトル(英語): Theory of Resistivity of the Semi-conductive Layers for the Electric Power Cable Based on Differential Topological Theory - An Example of the Applications -

著者名: 渡辺 和夫(千葉大学／IEEJプロフェッショナル),菅原 賢悟(近畿大学)

著者名(英語): Kazuo Watanabe(Chiba University/IEEJ Professional),Kengo Sugahara(Kindai University)

キーワード: 高電圧電力ケーブル,半導電層,抵抗率,微分・位相幾何学,電磁界解析

要約(日本語): 高電圧電力ケーブル・機器の絶縁体の高圧導体側と接地導体側との界面は電界緩和のため薄肉の平滑半導電層が施される。この半導電層の抵抗率測定方法について，これまでケーブル端部の半導電層の「ふち」に電極を付けるのみで求まる方法を提案し，微分・位相幾何学的考え方を用いた理論を展開してきた。本報告では長尺ケーブルで両端部を測定に使用できない場合の非破壊測定方法について提案し明確な証明を与える。これには曲面抵抗体上の電流の流れを扱うことになるので，電流界の基礎に立ち戻って考え，曲面の数学の内，微分・位相幾何学的考え方を用いて、さらに等角写像の原理によった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 621 Kバイト