積層セラミックコンデンサの短絡故障における非破壊電流経路可視化

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-051

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Visualization of current distribution as nondestructive testing of multilayer ceramic capacitor with short-circuit failure

著者名: 薮本 海(千葉工業大学),佐藤 宣夫(千葉工業大学)

著者名(英語): Kai Yabumoto(Chiba Institute of Technology),Nobuo Satoh(Chiba Institute of Technology)

キーワード: サブサーフェス磁気イメージング,非破壊検査,積層セラミックコンデンサ

要約(日本語): 専用の銅箔基板上に実装した市販の積層セラミックコンデンサに，耐圧を超える電圧を印加することで短絡故障を再現し，非破壊検査を適用することで，欠陥箇所の特定や当該手法の有効性について検証する．解析手段としては，遠隔磁場から電流経路を特定可能な，サブサーフェス磁気イメージングシステムを適用する．正常品と欠陥品の電流分布を比較することで欠陥箇所を推定した後，物理的な解析結果との照合を行う．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 278 Kバイト