磁場顕微鏡を用いたリチウムイオン電池のショート箇所特定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-054

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Non-destructively locating internal short spots inside lithium ion cells with a magnetic field microscope

著者名: 鈴木 一博(東芝ナノアナリシス),堤 雅義(東芝ナノアナリシス),照井 裕二(東芝ナノアナリシス)

著者名(英語): Kazuhiro Suzuki(Toshiba Nanoanalysis Corporation),Masayoshi Tsutsumi(Toshiba Nanoanalysis Corporation),Yuji Terui(Toshiba Nanoanalysis Corporation)

キーワード: 磁場顕微鏡,リチウムイオン電池,ショート,非破壊解析

要約(日本語): 最近、ショート箇所特定技術として、磁場顕微鏡を用いる手法が提案されている。本研究では、磁場顕微鏡を用いたリチウムイオン電池のショート箇所特定の事例について報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 328 Kバイト