発泡エナメル線の部分放電現象における絶縁皮膜構造の影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-135

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Influence of insulating film structure in partial discharge for foamed wire

著者名: 石津 祥子(兵庫県立大学),岡田 翔(兵庫県立大学),上野 秀樹(兵庫県立大学),宮崎 優伍(住友電気工業),溝口 晃(住友電気工業),山内 雅晃(住友電気工業)

著者名(英語): Shoko Ishizu(University of Hyogo),Sho Okada(University of Hyogo),Hideki Ueno(University of Hyogo),Yugo Miyazaki(Sumitomo Electric Industries),Akira Mizoguchi(Sumitomo Electric Industries),Masaaki Yamauchi(Sumitomo Electric Industries)

キーワード: エナメル線,部分放電

要約(日本語): 近年、モータ巻線の部分放電による絶縁劣化の促進が懸念されており、耐部分放電性を高めることが求められている。耐部分放電性を高める方法として部分放電の抑制に着目した。部分放電の抑制の方法としては絶縁被膜内に気泡を入れることによって、被膜の誘電率を低下させる方法に着目した。本報告では交流電圧を10分間印加した場合の皮膜の表面層の異なる発泡エナメル線(ポリイミド銅線、PIW)の部分放電電荷量及びその発生回数の時間特性の測定を行った。過電圧率一定の交流電圧を印加した場合、表面層の発泡有無で時間特性に違いがあり、発泡有りのエナメル線は部分放電電荷量の大きな放電は減少しやすいことが確認された。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 230 Kバイト