低気圧下における電界電子放出に起因した絶縁破壊現象

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-138

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Breakdown Phenomenon Caused by Field Electron Emission under Low Pressure

著者名: 北林 優祐(横浜国立大学),岩渕 大行(横浜国立大学),大山 力(横浜国立大学)

著者名(英語): Yusuke Kitabayashi(Yokohama National University),Hiroyuki Iwabuchi(Yokohama National University),Tsutomu Oyama(Yokohama National University)

キーワード: 真空遮断器,非持続性破壊放電,絶縁破壊

要約(日本語): 近年注目が高まってきている真空遮断器の非持続性破壊放電(Non-Sustained Disruptive Discharge : NSDD)について、その発生原因として電界電子放出電流に注目し、PIC-MCC法を用いて電極間にN2中性粒子もしくはCu中性粒子が0.1 Torrの気圧で存在する場合における絶縁破壊のシミュレーションを行った。その結果、電極の表面状態を表す電界強化係数の大きさによっては電極間の中性粒子の電離により生じた正電荷が電極表面の電界を強化し、電界電子放出電流を増加させて絶縁破壊を引き起こすことが確認された。以上より、低気圧下において電界電子放出が絶縁破壊を引き起こす可能性を示すことができた。今後はさらに真空に近い条件にてシミュレーションを続ける予定である。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 909 Kバイト