放射線照射フッ素材料における二次電子放出係数の測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-059

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Measurement of Secondary Electron Emission Yield on radiation irradiated fluorinated film

著者名: 永田 浩二郎(東京都市大学),佐藤 奈摘(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学)

著者名(英語): Kojiro Nagata(Tokyo City University),Natsumi Sato(Tokyo City University),Hiroaki Miyake(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University)

キーワード: 二次電子放出係数,陽子線,電子線,フッ素材料

要約(日本語): 宇宙機は高エネルギー放射線に曝されることで帯電し、過度に帯電することで静電放電が発生する。静電放電は宇宙機内に搭載されている機器や宇宙機自体の故障を引き起こすため、設計段階から表面電位解析を行うことで未然に防ぐ。本研究グループでは電位解析に必要な物性値の一つである二次電子放出係数(SEEY)について研究を行っている。本研究では主に宇宙機が宇宙環境に曝される間のSEEY特性の変化に着目し、宇宙環境を想定した量の電子線を照射した場合の試料のSEEY特性の変化について研究を行っている。今回は陽子線を照射したFEPのSEEYの変化を調査し、未照射および電子線照射後FEPのSEEY特性との比較調査を行ったので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 700 Kバイト