組合せ回路用テストパターン生成における外部入力の重要度に関する統計的調査

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-072

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Statistical Investigation on Importance of Primary Inputs of Combinatorial Circuits for Generating Test Patterns

著者名: 稲元 勉(愛媛大学),樋上 喜信(愛媛大学)

著者名(英語): Tsutomu Inamoto(Ehime University),Yoshinobu Higami(Ehime University)

キーワード: 組合せ回路,故障検出,BIST,統計的検定

要約(日本語): 本稿は，論理回路の運用段階で実施する故障検出手法である論理BISTを念頭におき，その際に発生させるテストパターン集合の故障検出率を向上させることを目的とし，有用な外部入力を判別するために統計的検定を利用する手法の調査結果を報告することを目標とする．本稿の手法では，外部入力iの値を網羅化したテストパターン集合を外部入力iの値を因子として2群へ分割し，故障検出率を観測値としてt検定を適用する．外部入力iが故障検出率へ影響を与えるならば，テストパターン集合のサイズが増すほどt検定で得られるp値は低下すると予想される．計算例として，小規模回路に対してその予想を検証した結果を示す．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 90 Kバイト