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有限要素解析を用いた経上皮電気抵抗測定マイクロ流体デバイス内電極形状の設計

有限要素解析を用いた経上皮電気抵抗測定マイクロ流体デバイス内電極形状の設計

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-155

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Finite element analysis and design of electrode patterns for TEER measurement within microfluidic device

著者名: 宮崎 貴史(京都大学),平井 義和(京都大学),亀井 謙一郎(京都大学),土屋 智由(京都大学),田畑 修(京都大学)

著者名(英語): Takashi Miyazaki(Kyoto University),Yoshikazu Hirai(Kyoto University),Ken-ichiro Kamei(Kyoto University),Toshiyuki Tsuchiya(Kyoto University),Osamu Tabata(Kyoto University)

キーワード: 経上皮電気抵抗,マイクロ流体デバイス,有限要素解析,創薬スクリーニング

要約(日本語): 経上皮電気抵抗(TEER)は、細胞単層のバリア機能を非侵襲的かつ経時的に測定可能な指標であり、創薬スクリーニングにおける重要な評価項目である。しかし、デバイス内の電極や細胞培養チャンバの形状および配置によって、同一の細胞種を用いても測定値が異なるという問題が指摘されている。そこで、マイクロ流体デバイスでの正確なTEER測定を目的に、有限要素法を用いて電流密度解析を行い、測定精度に関する指標である感度分布を比較した。本発表では、創薬スクリーニング中の細胞観察とTEER測定が同時に可能であり、マイクロ流体デバイスに適している新たな電極形状とその配置について報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 635 Kバイト

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