Q-Vカーブを用いた積層セラミックコンデンサの損失評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-016

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Loss evaluation of multilayer ceramic capacitor based on the Q-V curve

著者名: 武田 友美佳(首都大学東京),清水 敏久(首都大学東京)

著者名(英語): Yumika Takeda(Tokyo Metropolitan University),Toshihisa Shimizu(Tokyo Metropolitan University)

キーワード: コンデンサ,損失評価,ESR,等価回路,EPR

要約(日本語): 半導体電力変換回路の高パワー密度化が求められる中で，コンデンサの正確な損失特性の評価が重要となっている。筆者らはB-Hアナライザを用いたコンデンサ測定システムを開発しており，従来のインピーダンスアナライザでは行えない大電流通流時の特性について評価を行ってきた。近年の積層セラミックコンデンサの大容量，高耐圧化に伴い，積層セラミックコンデンサの評価も重要となる。本論ではB-Hアナライザを用いた測定システムについて述べた後に，積層セラミックコンデンサの損失評価とその等価回路の考察を行ったので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 909 Kバイト