配線インダクタンスを用いた電流測定におけるゲート電流に起因する誤差の一考察

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-017

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): An effect of gate drive current for current measurement using induced voltage of wiring inductance

著者名: 野下 裕市(東京農工大学),五十嵐 龍一(東京都立産業技術高等専門学校),石橋 正基(茨城大学),鄧 明聡(東京農工大学)

著者名(英語): Yuichi Noge(Tokyo University of Agriculture and Technology),Ryuichi Igarashi(Tokyo Metropolitan College of Technology),Masaki Ishibashi(Ibaraki University),Deng Mingcong(Tokyo University of Agriculture and Technology)

キーワード: スイッチング波形評価

要約(日本語): 近年，電力変換器に適用されるパワーデバイスのスイッチング速度が向上している。パワーデバイスのスイッチング損失やノイズを評価するためには，デバイス両端の電圧とデバイスに流れる電流の波形を100 MHz程度の広帯域で計測する必要がある。しかし電流波形を広帯域で計測するためには，ホールCTまたはロゴスキーコイルをデバイスと主回路間に挿入するため，実装密度の高い主回路には適用が難しい。そこで，半導体モジュールの配線インダクタンスに流れる電流の変化率に比例して誘起する誘導電圧を観測し，積分することで電流波形を再現する手法が検討されている(1)。この手法は主回路の寄生成分への影響が小さく，波形の再現性が高い。文献(1)では大容量のIGBTモジュールを対象としているが，本論文では小容量のSuper-junction MOSFETに同手法を適用し，ゲート電流の影響を除去する手法を実験的に確認する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 578 Kバイト