Y系線のMAD(最大許容欠陥長)およびMPZ(最小伝搬領域)の温度・電流依存特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-175

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Study on Time and Current Dependence of Maximum Allowable Defect and Minimum Propagation Zone of YBCO tape

著者名: 田口 春華(上智大学),鳥山 飛史(上智大学),高尾 智明(上智大学),中村 一也(上智大学),塚本 修巳(上智大学),古瀬 充穂(産業技術総合研究所)

著者名(英語): Haruka Taguchi(Sophia University),Hifumi Toriyama(Sophia University),Tomoaki Takao(Sophia University),Kazuya Nakamura(Sophia University),Osami Tsukamoto(Sophia University),Mitsuho Furuse(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)

キーワード: クエンチ,超電導機器応用,高温超電導

要約(日本語): HTSコイルでは線の局所的欠陥および局所的な冷却不足がクエンチの原因であり、クエンチを起こしたHTSコイルを再使用するためには、損傷を受けないようにクエンチ保護を行い、運転温度または運転電流を下げて運転をする必要がある。本報告ではY系コイルについてクエンチが発生しない線の欠陥の最大長さMADおよび最小伝搬領域MPZにおける抵抗電圧V_MPZの温度・電流依存特性を求め、クエンチを起こした場合にどの程度運転電流または運転温度を下げればよいか検討した。結果から、クエンチが発生してもコイルが損傷せずにクエンチ保護ができれば、運転電流や運転温度を下げることでMADおよびV_MPZが増大し、コイルは運転を継続できることが分かった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 652 Kバイト