微小欠陥を含む実器スペーサにおける部分放電測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-047

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Partial Discharge Measurement in Gas Insulated Switchgear Spacer with Internal Crack-shaped Micro-defects

著者名: 山本 尚史(東京電力ホールディングス),岡部 成光(東京電力ホールディングス),田村 佳之(三菱電機),石黒 純也(三菱電機),亀井 光仁(三菱電機)

著者名(英語): Takashi Yamamoto(Tokyo Electric Power Company Holdings, Inc.),Shigemitsu Okabe(Tokyo Electric Power Company Holdings, Inc.),Yoshiyuki Tamura(Mitsubishi Electric Corporation),Junya Ishiguro(Mitsubishi Electric Corporation),Mitsuhito Kamei(Mitsubishi Electric Corporation)

キーワード: GIS,部分放電測定,絶縁スペーサ,アンテナ,クラック欠陥

要約(日本語): 現在，経年40年以上のガス絶縁開閉装置(GIS)台数が増加している。高経年 GIS の絶縁寿命を決める要因として，固体絶縁物の劣化が挙げられる。先行研究では，1 pC相当の微小欠陥においても，条件次第では実運転電界下で数年以内に絶縁破壊に至るリスクを示唆している。これまでの研究では，直径100 mm，長さ75 mmの小型サンプル内に欠陥を作り試験を行ってきた。今回は，微小欠陥を含む実器大絶縁スペーサを製作し，部分放電電荷量，および周波数特性を実測し，従来の欠陥サンプルと同じく数十MHzに主成分を持つことを確認した。この結果より，数十MHzの信号を検出することで絶縁物欠陥を感度良く検出できると考えられる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 428 Kバイト