AI技術を適用したスイッチギヤ絶縁診断技術の開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-053

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Development of diagnosis technology for switchgear insulation using AI technology

著者名: 中村 勇介(東芝インフラシステムズ),伴野 幸造(東芝インフラシステムズ),藤井 祐樹(東芝インフラシステムズ),笹谷 典太(東芝),高野 俊也(東芝インフラシステムズ),岡本 徹志(東芝インフラシステムズ)

著者名(英語): Yusuke Nakamura(Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation),Kozo Banno(Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation),Yuuki Fujii(Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation),Tenta Sasaya(TOSHIBA CORPORATION),Toshiya Takano(Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation),Tetsushi Okamoto(Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation)

キーワード: AI,絶縁診断,スイッチギヤ,デノイズ,欠陥種識別,劣化診断

要約(日本語): 筆者らはAI技術を適用したスイッチギヤ診断技術を開発している。同開発技術はTEVセンサ―で取得した信号をデノイズ，欠陥種識別，劣化診断全てを AIで実施する診断技術である。本発表においては同診断技術の概要を紹介する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 317 Kバイト