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I-V特性を用いたPVアレイの不具合判定に関する研究

I-V特性を用いたPVアレイの不具合判定に関する研究

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 26-26

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Study on fault judgement of PV array using I-V characteristics

著者名: 山田 智徳(名城大学),山中 三四郎(名城大学),青山 泰宏(トーエネック),西戸 雄輝(トーエネック),小林 浩(トーエネック)

著者名(英語): Tomonori Yamada,Sansiro Yamanaka,Yasuhiro Aoyama,Yuki Nishido,Hiroshi kobayashi

キーワード: 太陽電池,I-V特性

要約(日本語): 筆者らは太陽電池の点検法の一つとして用いられるI-V特性の形状変化を,定量的に評価することを目的としている。これまでにメガソーラを対象とした,I-V特性の曲線因子(FF)を用いた保守点検法を提案してきた。正常なI-V特性のデータからFFの回帰式を算出し,判定対象のI-V特性から算出したFFと,この回帰式を比較することにより,不具合を判定する方法を検討した。本報では,以前の報告と異なるメガソーラサイトを対象に,FFを用いた判定法を検証したので報告する。その結果,以前の報告とは対象が異なるメガソーラにおいても,多少の判定誤差はあるものの,FFを用いることで目視によるI-V特性評価と同等な精度で判定可能であることが分かった。

本誌掲載ページ: 7-017 p

原稿種別: 日本語

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